此次才能比对依据JJF 1306-2011《X射线荧光镀层测厚仪校准标准》，对校准进程、原始记录及校准证书的正确性、标准性进行评价。

  近期，苏州市计量院收到了国家计量比对项目“金属膜厚量值计量比对”(项目编号：2021-B-09)成果满意的通知单。此次比对由国家商场监督管理总局安排、我国计量科学研究院主导。

  膜厚加工堆积是半导体、微电子、集成电路制作中的重要环节，膜厚量值大小会直接影响电子科技类产品的质量、功用、牢靠性及寿数，因为长三角地区电子工业的加快速度进行开展，膜厚量值的精确丈量和溯源成为确保电子科技类产品质量和相关工业高质量开展的要害。此次才能比对依据JJF 1306-2011《X射线荧光镀层测厚仪校准标准》，对校准进程、原始记录及校准证书的正确性、标准性做评价。验证依据成果得出苏州市计量院X射线荧光镀层测厚仪校准设备运转正常，向社会出具的丈量数据是精确牢靠的。

  经过参与此次才能验证，苏州市计量院检测工作员也得到了训练，检测技术水平获得了十万火急。往后，苏州市计量院还将在半导体、微电子、集成电路工业中自始自终坚持才能，更好地为客户供给优质、快捷、交心的服务！

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